در این مقاله یک روش تحلیلی بر مبنای فضای حالت مارکوف برای محاسبه قابلیت اطمینان سیستم‌های فتوولتائیک ارائه شده است. رفتار سیستم از دیدگاه قابلیت اطمینان با استفاده از روش تحلیلی مارکوف و آنالیز‌های احتمال به کار رفته مورد بررسی قرار گرفته است. همچنین فرض بر این بوده که در سیستم تعمیرات وجود نداشته و در نتیجه یک از کار افتادگی منجر به از کار افتادن کل سیستم می‌گردد. در این راستا برای استخراج معادله قابلیت اطمینان از طریق نمودار فضای حالت، مدل قابلیت اطمینان سیستم ترسیم شده است. نتایج محاسبه قابلیت اطمینان سیستم در بازه‌های زمانی ۱ سال و ۲۰ سال با میانگین ۸,۵ ساعت کار در روز محاسبه و ارائه شده است. در نهایت با بررسی درصد تاثیر اجزا در قابلیت اطمینان سیستم فتوولتاییک، تاثیر گذار‌ترین اجزا مشخص شده است. این نکته می‌تواند در بهینه سازی و افزایش قابلیت اطمینان سیستم مورد استفاده قرار گیرد.
این مقاله توسط مهدی دراهکی و مجتبی نجفی از دانشگاه آزاد اسلامی واحد بوشهر، رحمان دشتی از دانشگاه خلیج فارس بوشهر و سبحان دراهکی باشگاه پژوهشگران جوان و نخبگان منتشر شده است.
